scanning electron microscope
(SEM)
- сканирующий электронный микроскоп, растровый электронный микроскоп, РЭМ
#
электронный микроскоп, в котором на поверхность исследуемого образца, покрытую тонким слоем золота или другого металла, направляется луч (пучок) электронов – при их отражении от поверхности и формируется изображение.
Связные термины
CD-SEM, specimen, transmission electron microscope, virtual microscope.
