NBTI
negative biased temperature instability – отрицательная термополевая нестабильность, модель ОТПН # для полевых МОП-транзисторов (MOSFET) – важный показатель надёжности (старения), увеличение порогового напряжения (threshold voltage) и соответствующее уменьшение тока стока (drain current) при отрицательном смещении затвора.
Связные термины
field-effect transistor
